“VIEW Pinnacle 250影像测量仪”参数说明
是否有现货: | 否 | 品牌: | QVI/VIEW |
加工定制: | 否 | 操作方式: | 程序控制 |
分辨率: | 0.1 μm | 测量行程: | 250 X 150 X 100mm |
放大倍率: | 10-2000 | 测量精度: | (1.0+5L/1000) μm |
外形尺寸: | 803 X 877 X 1800 mm( | 型号: | VIEW Pinnacle 250 |
规格: | VIEW Pinnacle 250 | 商标: | QVI/VIEW |
包装: | QVI/VIEW | 负载: | 25kg |
产量: | 100 |
“VIEW Pinnacle 250影像测量仪”详细介绍
高产出、高精度尺寸测量系统VIEWPinnacle250影像测量仪有着非凡的精度和生产率,优异的MTBF性能,以及在同类型自动测量系统中最低的购置成本。其独特的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明,可轻松应对最苛刻的应用。最新型的直性运动控制技术造就了运行速度最快、最为可靠的免维护平台,满足从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量、高性能的操作。可选的软件包增强系统的通用性:lCAD导入(DXF/IGES)软件l形状拟合和分析软件l离线编程软件lQC-Calc™StatisticalProcessControl(SPC)—实时分析和报告软件Elements™CADToMeasure测量软件特征:-测量范围:250x150x100mm-25公斤承载力-亚微米的光栅尺分辨率-X-Y无阻力线性马达驱动,平台速度400mm/秒-Z轴DC伺服回转马达驱动,100mm/秒-误差映射:在XY平面非线性二维纠错-双重放大光学系统,固定镜头,内部放大1-4倍-可编程LED平台背光及同轴表面光照明-可编程多色环形灯(PRL)选项-TTL激光选项,具有自动聚焦和扫描功能-SpectraProbeTM高分辨率彩色传感器选项-先进的图像处理性能,快速、精确、稳健-双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机;4:1的比例-次像素精度:1/10-1/50pixel-独立的AnthroCartOperator工作站-强大的测量软件和数据分析工具可供选择-平均无故障工作时间MTBF≥8,000小时Pinnacle的应用范围包括:半导体/电子:BGA,μBGA,CSP,倒装芯片,MCM,bump-on-die引线框,引线接合,柔性线路板,连接器SMT元件贴装,锡膏/环氧数脂胶点,芯片载体和托盒,喷墨打印机墨盒,光纤组件和MEMs数据存储:悬置件滑块和悬臂组,(HGA)磁盘介质基板精密注塑和机加工件:模具和刀具,医疗设备,燃料喷射部件,手表组件Pinnacle250全自动非接触式影像测量仪是一款高速度、高精度的光学非接触式三维坐标影像测量仪,适用于工艺过程控制测量和质检检测应用。Pinnacle250全自动非接触影像测量仪适用范围:◆Flipchip、BGQ、QFP、QFN、MCM等先进封装间距、线宽、角度、弧度、高度等尺寸测量◆SMT组装装配、PCB&FPCB挠性电路等关键尺寸测量◆丝网印刷的孔径、位置、厚度、角度等测量◆Bumpondie、SolderPaste、光纤关键尺寸测量◆IC&LED封装引线架Leadframes、探针卡角度、间距、高度等测量◆LEDSMD封装测量,包括胶高、间距等测量◆PhotoMask、MEMS晶圆级检测、关键尺寸测量等应用Pinnacle250非常适用于对测量精度有很高要求的应用场合。如微电子组装、装配、精密冲压模具以及芯片封装等。