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“供应膜厚仪 SFT-110”参数说明
| 是否有现货： | 是 | 加工定制： | 是 |
“供应膜厚仪 SFT-110”详细介绍
品名:X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110 型号：SFT-110 概要：1.即放即测！ 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！ 3.可无标样测量！ 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！ 特长：［SFT-110的主要特征］1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。4. 广域观察系统（选配） 可从250×200mm的样品整体图像指定测量位置。5. 对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。6. 低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。 产品规格
检测器
比例计数管
X射线源
空冷式小型X射线管
准直器
0.1、0.2mmφ2种
样品观察
CCD摄像头
样品台移动量
250（X）×200（Y）mm
样品高度
150mm
检测器
比例计数管
X射线源
空冷式小型X射线管
准直器
0.1、0.2mmφ2种
样品观察
CCD摄像头
样品台移动量
250（X）×200（Y）mm
样品高度
150mm
