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“微型近场探头 LANGER EMV-Technik 频率可达6GHz 分辨率可达200μm”参数说明
| 认证： | CE/UL/UE/CCC | 类型： | EMI进场测试探头 |
| 品牌： | LANGER EMV-Technik | 测量范围： | 100kHz－3GHz |
| 电源电压： | AC:50/60Hz 1V-220V | 外形尺寸： | CE/UL/UE/CCC |
| 适用范围： | CE/UL/UE/CCC | 型号： | LANGER EMV-Technik |
| 规格： | LANGER EMV-Technik | 商标： | LANGER EMV-Technik |
| 包装： | 全新 |
“微型近场探头 LANGER EMV-Technik 频率可达6GHz 分辨率可达200μm”详细介绍
MFA 01微型近场探头组
LANGER EMV-Technik 频率可达6GHz，分辨率可达200µm
高分辨率磁场探头组 频率可达6GHz，分辨率可达200µm
LANGER EMV-Technik 频率可达6GHz，分辨率可达200µm
高分辨率磁场探头组 频率可达6GHz，分辨率可达200µm
| MFA 01微型近场探头组 |
高分辨率磁场探头组
频率可达6GHz，分辨率可达200µm
由于集成电路集成度以及时钟速率的不断提高，PCB上存在大量杂散场和杂散电流，并以磁场形式相互耦合，导致产生GHz级别的辐射骚扰。最新的CISPR 22标准要求测量到6GHz。由于PCB上大量安装高密度SMD器件，只有使用高分辨率探头，才能真正找出问题所在。
Langer公司最新推出的新一代手持式有源近场探头（MFA 01），频率范围覆盖1MHz到6GHz，分辨率可达200µm，用于PCB布线、元器件和IC引脚的细致的磁场测量，能对集成电路引脚或SMD器件进行选择性的测量，使用MFA-R 0.2-6探头能诊断高频磁场问题，使用MFA-K 0.1-12探头能确定高频电流。
所有微型磁场探头都有内置的放大器，BT 706偏置器给放大器提供供电。偏置器的阻抗为50Ω，为微型磁场探头提供稳定的供电（9V/100mA），BT 706带有一个12V/70mA的电源。微型磁场探头以及偏置器采用SMA连接器。
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近场探头组MFA 01包括：
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主要技术指标：
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频率范围 | 分辨率 | 结构 | 连接器 |
| MFA-R 0,2-75 | 1MHz～1GHz | 300 µm | 双水平环 | SMA |
| MFA-R 0,2-6 | 100MHz～6GHz | 300 µm | 垂直环 | SMA |
| MFA-K 0,1-12 | 100MHz～6GHz | 200 µm | 垂直环 | SMA |
| 偏置器BT 706 | 500kHz～6GHz |
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SMA |
MFA-R探头能用于测量PCB上最小封装的SMD器件（例如0603或者0201）。能测量非常精细的导体、SMD器件或IC引脚上的电流。
MFA-K探头，在设计上模拟电流卡钳，可用于测量精细导体或者IC引脚上的电流，会忽略附近其他磁场分量。
