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“显微熔点观察分析系统（CBIO-XWRD2006）”参数说明
| 型号： | CBIO-XWRD2006 | 商标： | CBIO |
| 产量： | 10000/年 |
“显微熔点观察分析系统（CBIO-XWRD2006）”详细介绍
CBIO-XWRD2006显微熔点观察测量分析系统是用来观察微观物质在温度变化时物相变化的过程，通过CCD摄像将此变化过程真实清晰的记录下来，为科学研究提供客观详实的依据。该系统所选用显微镜具有大视场、长工作距、倍率连续可变，立体感强等特点。温度控制系统采用不锈钢制造，备有隔热保护装置，其温度控制是具有国内领先的模糊逻辑控制技术，P。I。D控制技术，可自行设定热台升温速度及恒定温度值。选用软件可控制温度升温速度及范围以及视频的采集，并通过软件强大的图像处理及分析功能对所采集的视频或图像进行处理、分析及管理。本系统广泛应用于材料、化工、石油、煤炭、食品、医药、金属等领域。
技术参数：
显微镜：双目45度观察；变倍比1：6.5；横轴连续放大，放大倍数7X-180X；瞳距调节55mm-75mm；工作距离108mm
温度控制系统：温度范围：室温—300℃；控制精度：±1％；温度显示精度：±1℃。计算机实时控制，直观地对程序控温仪进行在线修改；经典公认的测试方法：全自动快速运行温度程序。温度程序段由用户自行设定，最高可设30段，并循环操作；同一屏幕显示材料热性能状况的动态显微图像和对应的温度值，具有显微图像和对应温度值的动态保存功能
图像采集系统：分辨率768（H）×582（V）像素，水平解析度570线的模拟彩色高清晰CCD或200万像素数字彩色CCD
系统配置：
1、连续变倍体式显微镜
2、温度控制系统
3、CCD摄像头及图象采集卡
4、外置光源
5、软件：动态采集视频及温度并测量样品熔点（标配）
6、电脑
7、打印机
技术参数：
显微镜：双目45度观察；变倍比1：6.5；横轴连续放大，放大倍数7X-180X；瞳距调节55mm-75mm；工作距离108mm
温度控制系统：温度范围：室温—300℃；控制精度：±1％；温度显示精度：±1℃。计算机实时控制，直观地对程序控温仪进行在线修改；经典公认的测试方法：全自动快速运行温度程序。温度程序段由用户自行设定，最高可设30段，并循环操作；同一屏幕显示材料热性能状况的动态显微图像和对应的温度值，具有显微图像和对应温度值的动态保存功能
图像采集系统：分辨率768（H）×582（V）像素，水平解析度570线的模拟彩色高清晰CCD或200万像素数字彩色CCD
系统配置：
1、连续变倍体式显微镜
2、温度控制系统
3、CCD摄像头及图象采集卡
4、外置光源
5、软件：动态采集视频及温度并测量样品熔点（标配）
6、电脑
7、打印机
